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    半導體光電測試設備高低溫探針臺用于傳感器 用于低溫環境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學測試。

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  • T8-LY100科研實驗室高低溫探針臺半導體測試儀器

    科研實驗室高低溫探針臺半導體測試儀器 可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及IV曲線等參數檢測,用于低溫環境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學測試。

    廠商性質:生產廠家 點擊量:986 更新日期:2025-09-09
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